晶圓內裂檢測用相機
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SWIR 工業相機,具備 VGA 與 Megapixel 解析度,搭載 InGaAs 感測器,支援 400-2200 nm 光譜範圍,取像速度最高 344 fps,適用於可見光與 SWIR 檢測應用。
解析度:高達130萬畫素
感測器:Sony InGaAs Sensor
影格速率:高達 344 fps
外殼選項:小尺寸,加固精密加工6061鋁外殼與優質陽極氧化塗層
鏡頭接口:C-Mount / F-Mount / M42-Mount
光譜範圍:900 至 1700 nm (SWIR) / 400 至 1700 nm (Sony VSWIR)
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